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Syllabus – o que você aprenderá com este curso
Introdução ao microscópio eletrônico
Congratulamo -nos com o curso de microscopia para caracterização, neste curso o aluno aprenderá as peças essenciais e a operação dos vários microscópios e técnicas de medição relacionadas, bem como as várias aplicações. O curso foi projetado para desenvolver mais de 5 semanas, com uma dedicação de 3 horas de semana. No final de cada módulo, o aluno encontrará um questionário que deve aprovar com uma pontuação de 80% para obter um certificado de uso.
Módulo 1: Microscopia eletrônica de varredura (SEM)
Este módulo pretende mostrar a estrutura e os princípios básicos de operação do microscópio eletrônico de varredura (MEB ou SEM em seu acrônimo em inglês). Veremos que tipo de fenômeno são produzidos dentro do microscópio quando o feixe de elétrons interage com a amostra e como os diferentes sinais gerados para fornecer, com grande resolução, informações morfológicas, topográficas e de composição, sendo muito úteis para uma grande variedade de científicos e aplicações industriais.
Módulo 2: Microscopia de transmissão eletrônica (TEM)
Neste módulo, é apresentada a configuração de um microscópio de transmissão eletrônica (TEM). Mientras en un microscopio SEM, las imágenes se forman con electrones secundarios arrancados de la muestra, o con electrones del haz primario que han sido retrodispersados al interaccionar fuertemente con los átomos del material, en un TEM las imágenes se forman con los electrones que han atravesado a mostra. Veremos os modos de operação mais fundamentais para obter uma imagem aumentada da amostra, mesmo com resolução atômica, ou para obter diagramas de difração de elétrons que contêm informações sobre a estrutura cristalina dos materiais observados.
Módulo 3: Microscopia de transmissão eletrônica de varredura (STEM)
Neste módulo, apresentamos o microscópio de transmissão eletrônica e os modos básicos de operação com feixe paralelo para obter imagens e padrões de difração de elétrons. Neste terceiro módulo, é apresentada a possibilidade de trabalhar com um feixe convergente e pequeno, que também varre a superfície da amostra pela ação das bobinas eletromagnéticas de defletor, dando origem ao modo de varredura – transmissão (STEM). O sinal de interesse neste caso vem da interação quase-a elástica de elétrons com os núcleos dos átomos da amostra para obter imagens cujo contraste depende do número atômico deles, ou da interação inelástica com a nuvem eletrônica dos átomos da amostra, para medir a perda de energia que os elétrons primários sofreram e extraem informações sobre a composição do material e o estado de oxidação dos elementos que a compõem.
Módulo 4: Microscopia de Forças Atômicas (AFM)
Neste módulo, analisamos o microscópio de forças atômicas que significou um marco no início dos anos 80 para a evolução e consolidação da nanotecnologia, uma vez que permite a medida de todos os tipos de nanoestruturas de maneira rápida, simples e não destrutiva. Durante o curso, veremos seu esquema e operação e podemos verificar seu grande potencial e alta versatilidade. O principal objetivo do curso é fornecer as ferramentas básicas para o uso prático de um AFM de maneira auto -suficiente.
Módulo 5: Microscopia óptica avançada (MOA)
Neste módulo, falamos sobre o grande avanço que a microscopia óptica experimentou neste último, consolidada com o novo equipamento avançado de microscopia óptica que já pode trabalhar na nanoescala. Um desses equipamentos é o microscópio confocal, que será apresentado e explicado durante o curso para conhecer seu esquema, composição, operação e possíveis opções de uso. A microscopia confocal permite a medição da superfície topográfica com uma ampla gama de texturas (de superfícies muito ásperas a superfícies muito lisas) por varredura nas etapas da amostra verticalmente.